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Mémoire

Année Auteur Titre
2011 Maëlle Labat Connaissance et méconnaissance du corps des femmes par les femmes
2011 Louise Page Le placenta praevia. Morbidité néonatale et maternelle. Capacité de dépistage d’un placenta accreta. Etude rétrospective réalisée au CHU d’Angers Du 1er janvier 2001 au 31 décembre 2010
2011 Camille Fresnais Soutien du lien mère-enfant à la naissance : différences selon le mode d’accouchement. Etude prospective menée en Suites de Couches au C.H.U d’Angers du 31 octobre au 14 novembre 2010
2011 Charlotte Guillou Les pères d’aujourd’hui. Enquête prospective réalisée auprès des pères et des mères du C.H.U. d’Angers du 1er Septembre au 15 Octobre 2010
2011 Pauline Garnier Les différents mode de prise en charge non pharmacologique de la douleur du nouveau né
2011 Soukaina Ghoujdami Analyse des données de fatigue sur un train roulant
2011 Thibault Marchand Analyse et synthèse des exigences des constructeurs au cours de projets automobiles
2011 Nassima Moustahy Standardisation de l'AMDEC Process & mise à jour du plan de surveillance
2011 Antoine Le Guen Rapport de projet industriel EI5 QSF-S, Banque de France
2011 Antoine Le Guen "Optimisation d'un processus RH selon la méthodologie DMAIC (Lean-Sigma)" chez Safran Engineering Services
2011 Quentin Chiffoleau Etudes de Sûreté de Fonctionnement sur des équipements électroniques aéronautiques
2011 Simon Renault Déploiement des parties 3 et 4 de la norme ISO 26262 sur des systèmes de directions assistées électriques
2011 Cedric Belouin Etudes FMDS sur la ligne à Grande Vitesse Bretagne-Pays de la Loire
2011 Bastien Dubrocq Risk analysis on flight and integration tests processes
2011 Florian Blot Assistance au déploiement CMMi niveau 3
2011 Florian Blot Validation de l'ERP Cegid PMI
2011 Nicolas Wickert Evaluation de la qualité des pommes par des mesures non destructives
2011 Charlene Caille Etude de fiabilité mécanique
2011 Tarik Ouallou Participation à la préparation de l’audit de renouvellement ISO-TS 16949
2011 Quentin Chiffoleau Classification des éléments de fiabilité sur la technologie de transistor GaN à partir de documents de recherche