Consultation par diplôme
| Titre | Citation |
|---|---|
| Assistance au déploiement CMMi niveau 3 | Blot, F. . (2011). Assistance au déploiement CMMi niveau 3. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20074045/20115EI448/fichier/448F.pdf (Original work published) |
| Validation de l'ERP Cegid PMI | Blot, F. ., Yamini, H. ., Keime, A. ., & Robert, A. . (2011). Validation de l’ERP Cegid PMI. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20074045/20115EI451/fichier/451F.pdf (Original work published) |
| Evaluation de la qualité des pommes par des mesures non destructives | Wickert, N. ., Robieux, J. ., & Poulain, M. . (2011). Evaluation de la qualité des pommes par des mesures non destructives. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20104102/20115EI453/fichier/453F.pdf (Original work published) |
| Etude de fiabilité mécanique | Caille, C. . (2011). Etude de fiabilité mécanique. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20093381/20115EI458/fichier/458F.pdf (Original work published) |
| Participation à la préparation de l’audit de renouvellement ISO-TS 16949 | Ouallou, T. . (2011). Participation à la préparation de l’audit de renouvellement ISO-TS 16949. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20103887/20115EI461/fichier/461F.pdf (Original work published) |
| Classification des éléments de fiabilité sur la technologie de transistor GaN à partir de documents de recherche | Chiffoleau, Q. ., Ajjani, N. E., & Mizelet, H. . (2011). Classification des éléments de fiabilité sur la technologie de transistor GaN à partir de documents de recherche. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20093430/20115EI463/fichier/463F.pdf (Original work published) |