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Titre Citation
Création d'un système qualité chez Emitech en vue de son accréditation en tant qu'organisme certificateur
Simon, A., Joumas, M. A. N., & de Lisle, N. C. (2012). Création d’un système qualité chez Emitech en vue de son accréditation en tant qu’organisme certificateur. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20084282/20125EI517/fichier/517F.pdf (Original work published)
Veille règlementaire environnementale
Cherif, M., Grande-Charmeil, L., Langiano, A., & Moço, C. (2011). Veille règlementaire environnementale. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20071107/20115EI424/fichier/424F.pdf (Original work published)
Analyse des données de fatigue sur un train roulant
Ghoujdami, S. E. (2011). Analyse des données de fatigue sur un train roulant. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20104960/20115EI426/fichier/426F.pdf (Original work published)
Rapport de projet industriel EI5 QSF-S, Banque de France
Le Guen, A., Attassi, H., Jdidou, A., & Lai, B. (2011). Rapport de projet industriel EI5 QSF-S, Banque de France. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20094163/20115EI436/fichier/436F.pdf (Original work published)
Validation de l'ERP Cegid PMI
Blot, F., Yamini, H., Keime, A., & Robert, A. (2011). Validation de l’ERP Cegid PMI. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20074045/20115EI451/fichier/451F.pdf (Original work published)
Evaluation de la qualité des pommes par des mesures non destructives
Wickert, N., Robieux, J., & Poulain, M. (2011). Evaluation de la qualité des pommes par des mesures non destructives. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20104102/20115EI453/fichier/453F.pdf (Original work published)
Classification des éléments de fiabilité sur la technologie de transistor GaN à partir de documents de recherche
Chiffoleau, Q., Ajjani, N. E., & Mizelet, H. (2011). Classification des éléments de fiabilité sur la technologie de transistor GaN à partir de documents de recherche. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20093430/20115EI463/fichier/463F.pdf (Original work published)
Analyse de données de fatigue et fiabilité mécanique
Dougal, M., Rouer, S., Ouallou, T., & Ghoujdami, S. E. (2011). Analyse de données de fatigue et fiabilité mécanique. Angers: Université Angers. Consulté à l’adresse http://dune.univ-angers.fr/fichiers/20103690/20115EI422/fichier/422F.pdf (Original work published)